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半导体制造流程(六) - 互连

宣布日期:2023-05-19 宣布者:尊龙凯时科技 浏览次数:6668

半导体制造流程(六) - 互连

半导体(semiconductor)指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的质料。半导体应用领域很是普遍。从科技或是经济生长的角度来看,半导体的主要性都是很是重大的。大部分的电子产品都和半导体有着极为亲近的关联。常见的半导体质料有硅、锗、砷化镓等,硅是种种半导体质料应用中最具有影响力的一种。

每个半导体产品的制造都需要数百个工艺,整个制造历程分为八个办法:晶圆加工 - 氧化 - 光刻 -刻蚀 - 薄膜沉积 - 互连 - 测试 - 封装。今天小编给各人先容的是半导体制造的第六个办法:互连,希望能对各人有所资助!

半导体制造流程.jpg

半导体制造第六步:互连

半导体的导电性处于导体与非导体(即绝缘体)之间,这种特征使我们能完全掌控电流。通过基于晶圆的光刻、刻蚀和沉积工艺可以构建出晶体管等元件,但还需要将它们毗连起来才华实现电力与信号的发送与吸收。

金属因其具有导电性而被用于电路互连。用于半导体的金属需要知足以下条件:

1、低电阻率:由于金属电路需要转达电流,因此其中的金属应具有较低的电阻。

2、热化学稳固性:金属互连历程中金属质料的属性必需坚持稳固。

3、高可靠性:随着集成电路手艺的生长,即即是少量金属互连质料也必需具备足够的耐用性。

4、制造本钱:纵然已经知足前面三个条件,质料本钱过高的话也无法知足批量生产的需要。

互连工艺主要使用铝和铜这两种物质。

铝互连工艺

铝互连工艺始于铝沉积、光刻胶应用以及曝光与显影,随后通过刻蚀有选择地去除任何多余的铝和光刻胶,然后才华进入氧化历程。前述办法完成后再一直重复光刻、刻蚀和沉积历程直至完成互连。

除了具有精彩的导电性,铝还具有容易光刻、刻蚀和沉积的特点。别的,它的本钱较低,与氧化膜粘附的效果也较量好。其弱点是容易侵蚀且熔点较低。另外,为避免铝与硅反应导致毗连问题,还需要添加金属沉积物将铝与晶圆离隔,这种沉积物被称为“阻挡金属”。

铝电路是通过沉积形成的。晶圆进入真空腔后,铝颗粒形成的薄膜会附着在晶圆上。这一历程被称为“气相沉积 (VD) ”,包括化学气相沉积和物理气相沉积。

半导体互连.jpg

半导体制造互连.jpg

铜互连工艺

随着半导体工艺细密度的提升以及器件尺寸的缩小,铝电路的毗连速率和电气特征逐渐无法知足要求,为此我们需要寻找知足尺寸和本钱两方面要求的新导体。铜之以是能取代铝的第一个缘故原由就是其电阻更低,因此能实现更快的器件毗连速率。其次铜的可靠性更高,由于它比铝更能对抗电迁徙,也就是电流流过金属时爆发的金属离子运动。

可是,铜禁止易形成化合物,因此很难将其气化并从晶圆外貌去除。针对这个问题,我们不再去刻蚀铜,而是沉积和刻蚀介电质料,这样就可以在需要的地方形成由沟道和通路孔组成的金属线路图形,之后再将铜填入前述“图形”即可实现互连,而最后的填入历程被称为“镶嵌工艺”。

随着铜原子一直扩散至电介质,后者的绝缘性会降低并爆发阻挡铜原子继续扩散的阻挡层。之后阻挡层上会形成很薄的铜种子层。到这一步之后就可以举行电镀,也就是用铜填充高深宽比的图形。填充后多余的铜可以用金属化学机械抛光 (CMP) 要领去除,完成后即可沉积氧化膜,多余的膜则用光刻和刻蚀工艺去除即可。前述整个历程需要一直重复直至完成铜互连为止。

半导体互连1.jpg

半导体制造互连1.jpg

通过上述比照可以看出,铜互连和铝互连的区别在于,多余的铜是通过金属 CMP 而非刻蚀去除的。

以上是关于半导体制造流程(六) - 互连的相关内容,希望能您你有所资助!

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