电子组件颗粒污染物危害评估要领（一）

电子组件颗粒污染物是指在电子组件或系统中保存的种种细小颗粒
，这些颗
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，包括生产历程中的质料、操作职员的衣物和皮肤、装备磨损、以及情形中的灰尘等。

电子组件颗粒污染物可能引发多种问题：金属颗
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，损害装备性能甚至导致装备彻底损坏；机械运动部件如毗连器可能会被颗粒物壅闭
，引发机械故障；某些含有侵蚀性物质的颗粒污染物还可能侵蚀金属部件或改变质料属性；在光学系统中
，颗粒污染物会散射或吸收光线
，降低图像质量。

下面尊龙凯时科技小编给各人先容的是电子组件颗粒污染物危害评估要领（基于击穿电压测试的击穿概率评估法）
，希望能对您有所资助！

电子组件颗粒污染物危害评估要领：

电子组件颗粒污染物危害评估详细要领流程如下：

1、测试准备

先准备好相邻的导体（如梳型电路板）及金属颗粒
，手动将颗粒安排在两个导体顶部
，并目视确认颗粒几何接触两个导体。

2、测试设置

设定DC电压从1V逐渐增添到60V
，每次增添1V
，每个电压点坚持一准时长
，设置合适的限流条件。

3、效果纪录

纪录电流显著变换时的电压
，即为击穿电压。为获得具有统计性的效果
，每次测试完成后
，重新安排颗粒并测试
，直到实现了25次击穿
，最大丈量次数限制为50次。

4、接触概率盘算

凭证公式盘算出短路接触的概率：

以上就是关于电子组件颗粒污染物危害评估要领的相关知识先容了
，希望能对您有所资助！

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